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    當前位置:首頁   >  產品中心   >  電化學設備  >  電化學原子力顯微鏡EC-AFM

    • 電化學原子力顯微鏡EC-AFM-掃描的產品概述 多功能原子力顯微鏡平臺,滿足納米級測量的需求 原子力顯微鏡(AFM)有納米級分辨率成像以及電,磁,熱和機器性能測量的能力。 納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡(SICM). 倒置光學顯微鏡(IOM)便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

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      產品價格:面議
      廠商性質:生產廠家
      更新日期:2024-01-18
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